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Electromigration - A material transport phenomenum in microelectronic circuits

Roth, W. / Eden, K.

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Titel:

Electromigration - A material transport phenomenum in microelectronic circuits

Beteiligte:

Roth, W. (Autor:in) / Eden, K. (Autor:in)

Erschienen in:

WERKSTOFFE UND KORROSION -WEINHEIM- ; 44 ; 130

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

130 pages

ISSN:

0043-2822

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11223

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