Comparative SIMS and SNMS analyses of amorphous semiconductor thin films: Fid-Bau Portal

Comparative SIMS and SNMS analyses of amorphous semiconductor thin films

Gnaser, H. / Bock, W. / Oechsner, H. / Bhattacharayya, T. K.

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Titel:

Comparative SIMS and SNMS analyses of amorphous semiconductor thin films

Beteiligte:

Gnaser, H. (Autor:in) / Bock, W. (Autor:in) / Oechsner, H. (Autor:in) / Bhattacharayya, T. K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 70/71 ; 44

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

44 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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