XPS and SIMS/SNMS measurements on thin metal oxide layers: Fid-Bau Portal

XPS and SIMS/SNMS measurements on thin metal oxide layers

Albers, T. / Neumann, M. / Lipinsky, D. / Benninghoven, A.

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Titel:

XPS and SIMS/SNMS measurements on thin metal oxide layers

Beteiligte:

Albers, T. (Autor:in) / Neumann, M. (Autor:in) / Lipinsky, D. (Autor:in) / Benninghoven, A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 70/71 ; 49

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

49 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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