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Evidence for non-uniform interface thickness in strained InGaAs/InP quantum wells

Camassel, J. / Wolter, K. / Juillaguet, S. / Schwedler, R.

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Titel:

Evidence for non-uniform interface thickness in strained InGaAs/InP quantum wells

Beteiligte:

Camassel, J. (Autor:in) / Wolter, K. (Autor:in) / Juillaguet, S. (Autor:in) / Schwedler, R. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 20 ; 62

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

62 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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