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Residual Stress Measurements on Cr/Ni Pads Evaporated on Polyimide Thin Films

Goldsmith, C. C. / Van Buskirk, C.

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Titel:

Residual Stress Measurements on Cr/Ni Pads Evaporated on Polyimide Thin Films

Beteiligte:

Goldsmith, C. C. (Autor:in) / Van Buskirk, C. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCES IN X RAY ANALYSIS ; 203

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

203 pages

ISSN:

0376-0308

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 539.7222

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