X-Ray DCD and EPMA Measurements of A1 Concentration in Epitaxial Al~xGa~1~-~xAs/GaAs Layers: Fid-Bau Portal

X-Ray DCD and EPMA Measurements of A1 Concentration in Epitaxial Al~xGa~1~-~xAs/GaAs Layers

Macquistan, D. A. / Bassignana, I. C. / SpringThorpe, A. J. / Packwood, R.

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Titel:

X-Ray DCD and EPMA Measurements of A1 Concentration in Epitaxial Al~xGa~1~-~xAs/GaAs Layers

Beteiligte:

Macquistan, D. A. (Autor:in) / Bassignana, I. C. (Autor:in) / SpringThorpe, A. J. (Autor:in) / Packwood, R. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCES IN X RAY ANALYSIS ; 221

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

221 pages

ISSN:

0376-0308

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 539.7222

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