Method for sputter rate determination in sputter depth profiling: Fid-Bau Portal

Method for sputter rate determination in sputter depth profiling

Lopez, F. / Garcia-Cuenca, M. V. / Asensi, J. M. / Morenza, J. L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Method for sputter rate determination in sputter depth profiling

Lopez, F. / Garcia-Cuenca, M. V. / Asensi, J. M. / Morenza, J. L.

Method for sputter rate determination in sputter depth profiling

Lopez, F. / Garcia-Cuenca, M. V. / Asensi, J. M. / Morenza, J. L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Method for sputter rate determination in sputter depth profiling

Beteiligte:

Lopez, F. (Autor:in) / Garcia-Cuenca, M. V. (Autor:in) / Asensi, J. M. (Autor:in) / Morenza, J. L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 70/71 ; 68

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

68 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

Lopez, F. / Garcia-Cuenca, M. V. / Asensi, J. M. et al. | British Library Online Contents | 1993

Sputter Depth Profiling

King, B. V. | Springer Verlag | 1992

Characterization of nanolayers by sputter depth profiling

Hofmann, S. | British Library Online Contents | 2005

Analytical and numerical depth resolution functions in sputter profiling

Hofmann, S. / Liu, Y. / Wang, J. Y. et al. | British Library Online Contents | 2014

Analytical and numerical depth resolution functions in sputter profiling

Hofmann, S. / Liu, Y. / Wang, J.Y. et al. | British Library Online Contents | 2014

Nach oben