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    Titel:

    Defect Characterization in P Isotype Si/SiGe/Si Heterostructures by Space Charge Spectroscopy

    Beteiligte:

    Bremond, G. (Autor:in) / Souifi, A. (Autor:in) / Degroodt, P. (Autor:in) / Warren, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 495

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1994

    Format / Umfang:

    495 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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