Optical and electrical characterization of thick GaSb buffer layers grown on 2 in GaAs wafers: Fid-Bau Portal

Optical and electrical characterization of thick GaSb buffer layers grown on 2 in GaAs wafers

Royo, F. / Giani, A. / Pascal-Delannoy, F. / Gouskov, L.

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Titel:

Optical and electrical characterization of thick GaSb buffer layers grown on 2 in GaAs wafers

Beteiligte:

Royo, F. (Autor:in) / Giani, A. (Autor:in) / Pascal-Delannoy, F. (Autor:in) / Gouskov, L. (Autor:in) / Fornari, R.

Erschienen in:

2nd International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies ; 169

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 28

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

169 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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