Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Application of angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy to the study of GaAs (001) surfaces and metal/GaAs (001) interfaces

    Neue Suche nach: Lepine, B.
    Neue Suche nach: Quemerais, A.
    Neue Suche nach: Jezequel, G.
    Neue Suche nach: Pollini, I.
    Neue Suche nach: Fornani, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Application of angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy to the study of GaAs (001) surfaces and metal/GaAs (001) interfaces

    Neue Suche nach: Lepine, B.
    Neue Suche nach: Quemerais, A.
    Neue Suche nach: Jezequel, G.
    Neue Suche nach: Pollini, I.
    Neue Suche nach: Fornani, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Application of angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy to the study of GaAs (001) surfaces and metal/GaAs (001) interfaces

    Neue Suche nach: Lepine, B.
    Neue Suche nach: Quemerais, A.
    Neue Suche nach: Jezequel, G.
    Neue Suche nach: Pollini, I.
    Neue Suche nach: Fornani, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Application of angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy to the study of GaAs (001) surfaces and metal/GaAs (001) interfaces

    Beteiligte:

    Lepine, B. (Autor:in) / Quemerais, A. (Autor:in) / Jezequel, G. (Autor:in) / Pollini, I. (Autor:in) / Fornani, R.

    Erschienen in:

    2nd International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies ; 527

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 28

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1994

    Format / Umfang:

    527 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Differences between GaAs/GaInP and GaAs/AlInP interfaces grown by movpe revealed by depth profiling and angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopies

    López-Escalante, M. C. / Gabás, M. / García, I. et al. | British Library Online Contents | 2016

    Angle-resolved X-ray photoemission study of GaAs(001) surfaces

    Quemerais, A. / Lepine, B. / Jezequel, G. et al. | British Library Online Contents | 1994

    Spin-Resolved Photoelectron Spectroscopy of Ultrathin Fe Films on GaAs(001)

    Takahashi, N. / Zhang, T. / Spangenberg, M. et al. | British Library Online Contents | 2002

    An X-ray photoelectron spectroscopy study of the oxides of GaAs

    Surdu-Bob, C. C. / Saied, S. O. / Sullivan, J. L. | British Library Online Contents | 2001

    Highly Angle-Resolved X-Ray Photoelectron Diffraction from Solid Surfaces

    Tamura, K. / Shiraki, S. / Ishii, H. et al. | British Library Online Contents | 2003

    Nach oben