Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Scanning tunneling microscopy study of solid-phase epitaxy processes of amorphous silicon layers on silicon substrates

    Neue Suche nach: Uesugi, K.
    Neue Suche nach: Komura, T.
    Neue Suche nach: Yoshimura, M.
    Neue Suche nach: Yao, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Scanning tunneling microscopy study of solid-phase epitaxy processes of amorphous silicon layers on silicon substrates

    Neue Suche nach: Uesugi, K.
    Neue Suche nach: Komura, T.
    Neue Suche nach: Yoshimura, M.
    Neue Suche nach: Yao, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Scanning tunneling microscopy study of solid-phase epitaxy processes of amorphous silicon layers on silicon substrates

    Neue Suche nach: Uesugi, K.
    Neue Suche nach: Komura, T.
    Neue Suche nach: Yoshimura, M.
    Neue Suche nach: Yao, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Scanning tunneling microscopy study of solid-phase epitaxy processes of amorphous silicon layers on silicon substrates

    Beteiligte:

    Uesugi, K. (Autor:in) / Komura, T. (Autor:in) / Yoshimura, M. (Autor:in) / Yao, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 82/83 ; 367

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1994

    Format / Umfang:

    367 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Scanning tunneling microscopy observations of Ge solid-phase epitaxy on Si(111)

    Hibino, H. / Ogino, T. | British Library Online Contents | 1994

    Scanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires

    Busiakiewicz, A. / Klusek, Z. / Huczko, A. et al. | British Library Online Contents | 2008

    Scanning Tunneling Microscopy: Semiconductor Surfaces, Adsorption, and Epitaxy

    Feenstra, R. M. | Springer Verlag | 1990

    Scanning tunneling microscopy of hydrogenated amorphous silicon: high-resolution topography and local apparent barrier heights

    Herion, J. | British Library Online Contents | 1999

    Tailoring graphite layers by scanning tunneling microscopy

    Hiura, H. | British Library Online Contents | 2004

    Nach oben