Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Scanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires
Scanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires
Scanning tunneling microscopy investigations of silicon carbide nanowires
Busiakiewicz, A. (Autor:in) / Klusek, Z. (Autor:in) / Huczko, A. (Autor:in) / Kowalczyk, P. J. (Autor:in) / Dabrowski, P. (Autor:in) / Kozlowski, W. (Autor:in) / Cudzilo, S. (Autor:in) / Datta, P. K. (Autor:in) / Olejniczak, W. (Autor:in)
APPLIED SURFACE SCIENCE ; 254 ; 4268-4272
01.01.2008
5 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621.35
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