Slow positron implantation spectroscopy of edge-defined film-fed growth silicon: Fid-Bau Portal

Slow positron implantation spectroscopy of edge-defined film-fed growth silicon

Coleman, P. G. / Bloss, E. / Setzler, S. / LaShell, S.

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Titel:

Slow positron implantation spectroscopy of edge-defined film-fed growth silicon

Beteiligte:

Coleman, P. G. (Autor:in) / Bloss, E. (Autor:in) / Setzler, S. (Autor:in) / LaShell, S. (Autor:in) / Doyama, M. / Akahane, T. / Fujinami, M.

Erschienen in:

Proceedings of the Sixth International Workshop on Slow-Positron Beam Techniques for Solids and Surfaces ; 276

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 85

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

276 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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