Defect analysis using 2D-ACAR: GaAs as a test case: Fid-Bau Portal

Defect analysis using 2D-ACAR: GaAs as a test case

Manuel, A. A. / Ambigapathy, R. / Saarinen, K. / Hautojaervi, P.

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Titel:

Defect analysis using 2D-ACAR: GaAs as a test case

Beteiligte:

Manuel, A. A. (Autor:in) / Ambigapathy, R. (Autor:in) / Saarinen, K. (Autor:in) / Hautojaervi, P. (Autor:in) / Doyama, M. / Akahane, T. / Fujinami, M.

Erschienen in:

Proceedings of the Sixth International Workshop on Slow-Positron Beam Techniques for Solids and Surfaces ; 301

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 85

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

301 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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