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    SIMS microprofiles of Pb-5%Sn solder joints in electronic devices after accelerated life tests

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    Titel:

    SIMS microprofiles of Pb-5%Sn solder joints in electronic devices after accelerated life tests

    Beteiligte:

    Scandurra, A. (Autor:in) / Porto, A. (Autor:in) / Puglisi, O. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 89 ; 1

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    1 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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