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    Titel:

    Modelling of multilayer films using spectroscopic ellipsometry

    Beteiligte:

    Chattopadhyay, K. (Autor:in) / Aubel, J. (Autor:in) / Sundaram, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 30 ; 4014

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    4014 pages

    ISSN:

    0022-2461

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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