Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    A closed UHV focused ion beam patterning and MBE regrowth technique

    Neue Suche nach: Muessig, H.
    Neue Suche nach: Hackbarth, T.
    Neue Suche nach: Brugger, H.
    Neue Suche nach: Orth, A.
    Neue Suche nach: Reithmaier, J. P.
    Neue Suche nach: Forchel, A.
    Neue Suche nach: Henini, M.
    Neue Suche nach: Szweda, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    A closed UHV focused ion beam patterning and MBE regrowth technique

    Neue Suche nach: Muessig, H.
    Neue Suche nach: Hackbarth, T.
    Neue Suche nach: Brugger, H.
    Neue Suche nach: Orth, A.
    Neue Suche nach: Reithmaier, J. P.
    Neue Suche nach: Forchel, A.
    Neue Suche nach: Henini, M.
    Neue Suche nach: Szweda, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    A closed UHV focused ion beam patterning and MBE regrowth technique

    Neue Suche nach: Muessig, H.
    Neue Suche nach: Hackbarth, T.
    Neue Suche nach: Brugger, H.
    Neue Suche nach: Orth, A.
    Neue Suche nach: Reithmaier, J. P.
    Neue Suche nach: Forchel, A.
    Neue Suche nach: Henini, M.
    Neue Suche nach: Szweda, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    A closed UHV focused ion beam patterning and MBE regrowth technique

    Beteiligte:

    Muessig, H. (Autor:in) / Hackbarth, T. (Autor:in) / Brugger, H. (Autor:in) / Orth, A. (Autor:in) / Reithmaier, J. P. (Autor:in) / Forchel, A. (Autor:in) / Henini, M. / Szweda, R.

    Erschienen in:

    Low Dimensional Structures and Devices ; 208-213

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 35

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Patterning of amorphous and polycrystalline Ni78B14Si8 with a focused-ion-beam

    Li, W. / Minev, R. / Dimov, S. et al. | British Library Online Contents | 2007

    Integrated Direct DNA/Protein Patterning and Microfabrication by Focused Ion Beam Milling

    Jiang, J. / Li, X. / Mak, W. C. et al. | British Library Online Contents | 2008

    A study of fused silica micro/nano patterning by focused-ion-beam

    Li, W. / Lalev, G. / Dimov, S. et al. | British Library Online Contents | 2007

    PATTERNING TECHNIQUE

    BARNES JHANE | Europäisches Patentamt | 2015

    Freier Zugriff

    Focused Ion-Beam (FIB) Nanomachining of Silicon Carbide (SiC) Stencil Masks for Nanoscale Patterning

    Zamani, H. / Lee, S.W. / Avishai, A. et al. | British Library Online Contents | 2012

    Nach oben