Photoreflectance investigations of semiconductor device structures: Fid-Bau Portal

Photoreflectance investigations of semiconductor device structures

Soares, J. A. N. T. / Beliaev, D. / Enderlein, R. / Scolfaro, L. M. R. / Saito, M. / Leite, J. R.

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Titel:

Photoreflectance investigations of semiconductor device structures

Beteiligte:

Soares, J. A. N. T. (Autor:in) / Beliaev, D. (Autor:in) / Enderlein, R. (Autor:in) / Scolfaro, L. M. R. (Autor:in) / Saito, M. (Autor:in) / Leite, J. R. (Autor:in) / Henini, M. / Szweda, R.

Erschienen in:

Low Dimensional Structures and Devices ; 267-272

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 35

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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