Depth profiling of W, O and H in tungsten trioxide thin films using RBS and ERDA techniques: Fid-Bau Portal

Depth profiling of W, O and H in tungsten trioxide thin films using RBS and ERDA techniques

Bohnke, O. / Frand, G. / Fromm, M. / Weber, J. / Greim, O.

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Titel:

Depth profiling of W, O and H in tungsten trioxide thin films using RBS and ERDA techniques

Beteiligte:

Bohnke, O. (Autor:in) / Frand, G. (Autor:in) / Fromm, M. (Autor:in) / Weber, J. (Autor:in) / Greim, O. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 93 ; 45-52

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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