Defect Production and Annealing in Degenerate Silicon Irradiated with Fast Electrons at Low Temperatures: Fid-Bau Portal

Defect Production and Annealing in Degenerate Silicon Irradiated with Fast Electrons at Low Temperatures

Ehrhart, P. / Emtsev, V. V. / Poloskin, D. S. / Zillgen, H.

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Titel:

Defect Production and Annealing in Degenerate Silicon Irradiated with Fast Electrons at Low Temperatures

Beteiligte:

Ehrhart, P. (Autor:in) / Emtsev, V. V. (Autor:in) / Poloskin, D. S. (Autor:in) / Zillgen, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 151-156

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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