Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Electroreflectance spectroscopy of strained Si~1~-~xGe~x layers on silicon
Electroreflectance spectroscopy of strained Si~1~-~xGe~x layers on silicon
Electroreflectance spectroscopy of strained Si~1~-~xGe~x layers on silicon
Ebner, T. (Autor:in) / Thonke, K. (Autor:in) / Sauer, R. (Autor:in) / Schaeffler, F. (Autor:in) / Herzog, H. J. (Autor:in)
APPLIED SURFACE SCIENCE ; 102 ; 90-93
01.01.1996
4 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621.35
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