Improvement of Cs-induced surface roughness for high depth resolution profiling of CdZnSe/ZnSe multilayer films: Fid-Bau Portal

Improvement of Cs-induced surface roughness for high depth resolution profiling of CdZnSe/ZnSe multilayer films

Takakuwa, C. / Tomita, M. / Hatanaka, T. / Suzuki, I. / Franco, G. / Yamaguchi, H.

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Titel:

Improvement of Cs-induced surface roughness for high depth resolution profiling of CdZnSe/ZnSe multilayer films

Beteiligte:

Takakuwa, C. (Autor:in) / Tomita, M. (Autor:in) / Hatanaka, T. (Autor:in) / Suzuki, I. (Autor:in) / Franco, G. (Autor:in) / Yamaguchi, H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 103 ; 255-260

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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