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LBIC investigation of impurity-dislocation interaction in FZ silicon wafers

Perichaud, I. / Simon, J. J. / Martinuzzi, S.

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Titel:

LBIC investigation of impurity-dislocation interaction in FZ silicon wafers

Beteiligte:

Perichaud, I. (Autor:in) / Simon, J. J. (Autor:in) / Martinuzzi, S. (Autor:in) / Balkanski, M. / Kamimura, H. / Mahajan, S.

Erschienen in:

Solid-State Materials for Advanced Technology ; 265-269

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 42

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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