Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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A high resolution XPS study of a complex insulator: the case of porous silicon
A high resolution XPS study of a complex insulator: the case of porous silicon
A high resolution XPS study of a complex insulator: the case of porous silicon
Leisenberger, F. (Autor:in) / Duschek, R. (Autor:in) / Czaputa, R. (Autor:in) / Netzer, F. P. (Autor:in) / Beamson, G. (Autor:in) / Matthew, J. A. D. (Autor:in)
APPLIED SURFACE SCIENCE ; 108 ; 273-281
01.01.1997
9 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621.35
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Defect transformation study in silicon-on-insulator structures by high-resolution X-Ray diffraction
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