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    Titel:

    Void nucleation in passivated interconnect lines: Effects of site geometries, interfaces, and interface flaws

    Beteiligte:

    Gleixner, R. J. (Autor:in) / Clemens, B. M. (Autor:in) / Nix, W. D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 12 ; 2081-2090

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    10 pages

    ISSN:

    0884-2914

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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