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    Titel:

    Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy of Semiconductor Heterostructures

    Beteiligte:

    Yu, E. T. (Autor:in) / Yu, E. T. / Pennycook, S. J.

    Erschienen in:

    Nanoscale Characterization of Materials ; 22-26

    MRS BULLETIN- MATERIALS RESEARCH SOCIETY ; 22

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0883-7694

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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