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    Titel:

    Electrical characterization of electron beam induced defects in epitaxially grown Si~1~-~xGe~x

    Beteiligte:

    Mamor, M. (Autor:in) / Auret, F. D. (Autor:in) / Goodman, S. A. (Autor:in) / Myburg, G. (Autor:in) / Deenapanray, P. N. K. (Autor:in) / Meyer, W. E. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 258/263 ; 115-120

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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