Isolated substitutional silver and silver-induced defects in silicon: an electron paramagnetic resonance investigation: Fid-Bau Portal

Isolated substitutional silver and silver-induced defects in silicon: an electron paramagnetic resonance investigation

Hai, P. N. / Gregorkiewicz, T. / Ammerlaan, C. A. J. / Don, D. T.

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Titel:

Isolated substitutional silver and silver-induced defects in silicon: an electron paramagnetic resonance investigation

Beteiligte:

Hai, P. N. (Autor:in) / Gregorkiewicz, T. (Autor:in) / Ammerlaan, C. A. J. (Autor:in) / Don, D. T. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 258/263 ; 491-496

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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