Structural Characterization of Thin Films by X-Ray Diffraction and Reflectivity: Fid-Bau Portal

Structural Characterization of Thin Films by X-Ray Diffraction and Reflectivity

Brower, D. T. / Medower, B. S. / Huang, T. C.

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Titel:

Structural Characterization of Thin Films by X-Ray Diffraction and Reflectivity

Beteiligte:

Brower, D. T. (Autor:in) / Medower, B. S. (Autor:in) / Huang, T. C. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCES IN X RAY ANALYSIS ; 615-626

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

12 pages

ISSN:

0376-0308

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 539.7222

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