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    Titel:

    Mapping residual stress using optical microprobe in alumina films formed by thermal oxidation of NiAl

    Beteiligte:

    Atkinson, A. (Autor:in) / Clarke, D. R. (Autor:in) / Webb, S. J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Layered structural materials '97 ; 531-534

    MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY -LONDON- ; 14

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0267-0836

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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