In situ X-ray characterization of oligophenylene thin films prepared by organic molecular beam deposition: Fid-Bau Portal

In situ X-ray characterization of oligophenylene thin films prepared by organic molecular beam deposition

Yoshida, Y. / Takiguchi, H. / Hanada, T. / Tanigaki, N. / Mi Han, E. / Yase, K.

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Titel:

In situ X-ray characterization of oligophenylene thin films prepared by organic molecular beam deposition

Beteiligte:

Yoshida, Y. (Autor:in) / Takiguchi, H. (Autor:in) / Hanada, T. (Autor:in) / Tanigaki, N. (Autor:in) / Mi Han, E. (Autor:in) / Yase, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 130-132 ; 651-657

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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