Microstructural characterization of Ti-C-N thin films prepared by reactive crossed beam pulsed laser deposition: Fid-Bau Portal

Microstructural characterization of Ti-C-N thin films prepared by reactive crossed beam pulsed laser deposition

Escobar-Alarcon, L. / Medina, V. / Camps, E. / Romero, S. / Fernandez, M. / Solis-Casados, D.

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Titel:

Microstructural characterization of Ti-C-N thin films prepared by reactive crossed beam pulsed laser deposition

Beteiligte:

Escobar-Alarcon, L. (Autor:in) / Medina, V. (Autor:in) / Camps, E. (Autor:in) / Romero, S. (Autor:in) / Fernandez, M. (Autor:in) / Solis-Casados, D. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 257 ; 9033-9037

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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