Study of molecular surface diffusion by imaging static secondary ion mass spectrometry (SIMS): polymers on Ag-surfaces: Fid-Bau Portal

Study of molecular surface diffusion by imaging static secondary ion mass spectrometry (SIMS): polymers on Ag-surfaces

Deimel, M. / Rulle, H. / Liebing, V. / Benninghoven, A.

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Titel:

Study of molecular surface diffusion by imaging static secondary ion mass spectrometry (SIMS): polymers on Ag-surfaces

Beteiligte:

Deimel, M. (Autor:in) / Rulle, H. (Autor:in) / Liebing, V. (Autor:in) / Benninghoven, A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 134 ; 271-274

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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