Static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS) analysis of atmospheric plasma treated polypropylene films: Fid-Bau Portal

Static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS) analysis of atmospheric plasma treated polypropylene films

Boschmans, B. / Vanneste, M. / Ruys, L. / Temmerman, E. / Leys, C. / Van Vaeck, L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS) analysis of atmospheric plasma treated polypropylene films

Boschmans, B. / Vanneste, M. / Ruys, L. / Temmerman, E. / Leys, C. / Van Vaeck, L.

Static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS) analysis of atmospheric plasma treated polypropylene films

Boschmans, B. / Vanneste, M. / Ruys, L. / Temmerman, E. / Leys, C. / Van Vaeck, L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS) analysis of atmospheric plasma treated polypropylene films

Beteiligte:

Boschmans, B. (Autor:in) / Vanneste, M. (Autor:in) / Ruys, L. (Autor:in) / Temmerman, E. (Autor:in) / Leys, C. (Autor:in) / Van Vaeck, L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 6660-6663

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Boschmans, B. / Vanneste, M. / Ruys, L. et al. | British Library Online Contents | 2006

SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry

Kudo, M. / Nagayama, S. | British Library Online Contents | 1993

SIMS — Secondary Ion Mass Spectrometry

MacDonald, R. J. / King, B. V. | Springer Verlag | 1992

Characterisation of electrospun nanowebs with static secondary ion mass spectrometry (S-SIMS)

Van Royen, P. / dos Santos, A. M. / Schacht, E. et al. | British Library Online Contents | 2006

Applications of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) in Materials Science

McPhail, D. S. | British Library Online Contents | 2006

Nach oben