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Calculation of the optimal imaging parameters for frequency modulation atomic force microscopy

Giessibl, F. J. / Bielefeldt, H. / Hembacher, S. / Mannhart, J.

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Titel:

Calculation of the optimal imaging parameters for frequency modulation atomic force microscopy

Beteiligte:

Giessibl, F. J. (Autor:in) / Bielefeldt, H. (Autor:in) / Hembacher, S. (Autor:in) / Mannhart, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 140 ; 352-357

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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