True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110): Fid-Bau Portal

True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110)

Sugawara, Y. / Uchihashi, T. / Abe, M. / Morita, S.

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Titel:

True atomic resolution imaging of surface structure and surface charge on the GaAs(110)

Beteiligte:

Sugawara, Y. (Autor:in) / Uchihashi, T. (Autor:in) / Abe, M. (Autor:in) / Morita, S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 140 ; 371-375

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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