Atomic force microscopic studies of oxide thin films on organic self-assembled monolayers: Fid-Bau Portal

Atomic force microscopic studies of oxide thin films on organic self-assembled monolayers

Niesen, T. P. / De Guire, M. R. / Bill, J. / Aldinger, F. / Ruehle, M. / Fischer, A. / Jentoft, F. C. / Schloegl, R.

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Titel:

Atomic force microscopic studies of oxide thin films on organic self-assembled monolayers

Beteiligte:

Niesen, T. P. (Autor:in) / De Guire, M. R. (Autor:in) / Bill, J. (Autor:in) / Aldinger, F. (Autor:in) / Ruehle, M. (Autor:in) / Fischer, A. (Autor:in) / Jentoft, F. C. (Autor:in) / Schloegl, R. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 14 ; 2464-2475

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

12 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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