Dependence of the structural and optical properties of Si~xGe~1~-~x/Si heterostructures on the Si substrate temperature and the Ge mole fraction: Fid-Bau Portal

Dependence of the structural and optical properties of Si~xGe~1~-~x/Si heterostructures on the Si substrate temperature and the Ge mole fraction

Woo, Y. D. / Kang, T. W. / Kim, T. W.

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Titel:

Dependence of the structural and optical properties of Si~xGe~1~-~x/Si heterostructures on the Si substrate temperature and the Ge mole fraction

Beteiligte:

Woo, Y. D. (Autor:in) / Kang, T. W. (Autor:in) / Kim, T. W. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 18 ; 435-438

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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