Effects of thermal annealing on the strains and structures of CdTe epilayers grown on Si(100) substrates for various substrate tilt angles: Fid-Bau Portal

Effects of thermal annealing on the strains and structures of CdTe epilayers grown on Si(100) substrates for various substrate tilt angles

Hou, Y.B. / Leem, J.H. / Kang, T.W. / Kim, T.W.

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Titel:

Effects of thermal annealing on the strains and structures of CdTe epilayers grown on Si(100) substrates for various substrate tilt angles

Beteiligte:

Hou, Y.B. (Autor:in) / Leem, J.H. (Autor:in) / Kang, T.W. (Autor:in) / Kim, T.W. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 151 ; 213-217

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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