New methods for the characterization of surface states density and substrate/epilayer interface states in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs/GaAs heterostructures: Fid-Bau Portal

New methods for the characterization of surface states density and substrate/epilayer interface states in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs/GaAs heterostructures

Mosser, V. / Callen, O. / Kobbi, F. / Adam, D. / Grattepain, C. / Draidia, N.

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Titel:

New methods for the characterization of surface states density and substrate/epilayer interface states in pseudomorphic AlGaAs/InGaAs/GaAs heterostructures

Beteiligte:

Mosser, V. (Autor:in) / Callen, O. (Autor:in) / Kobbi, F. (Autor:in) / Adam, D. (Autor:in) / Grattepain, C. (Autor:in) / Draidia, N. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 66 ; 157 - 161

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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