Defect production by the TEM beam-the first application of the positron microprobe: Fid-Bau Portal

Defect production by the TEM beam-the first application of the positron microprobe

Mannig, U. / Bennewitz, K. / Bihr, H. / Haaks, M. / Sigle, W. / Zamponi, C. / Maier, K.

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Titel:

Defect production by the TEM beam-the first application of the positron microprobe

Beteiligte:

Mannig, U. (Autor:in) / Bennewitz, K. (Autor:in) / Bihr, H. (Autor:in) / Haaks, M. (Autor:in) / Sigle, W. (Autor:in) / Zamponi, C. (Autor:in) / Maier, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 149 ; 217-220

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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