Principle of Low-Energy Electron Beam-Induced Current Imaging for Ferroelectric Thin Films: Fid-Bau Portal

Principle of Low-Energy Electron Beam-Induced Current Imaging for Ferroelectric Thin Films

Lubomirsky, I. / Wang, T. Y. / Gartsman, K. / Stafsudd, O. M.

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Titel:

Principle of Low-Energy Electron Beam-Induced Current Imaging for Ferroelectric Thin Films

Beteiligte:

Lubomirsky, I. (Autor:in) / Wang, T. Y. (Autor:in) / Gartsman, K. (Autor:in) / Stafsudd, O. M. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH- ; 12 ; 91-94

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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