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    Titel:

    Photo-Emission Electron Microscopy (PEEM) of Cleaned and Etched 6H-SiC(0001)

    Beteiligte:

    Hartman, J. D. (Autor:in) / Naniwae, K. (Autor:in) / Petrich, C. (Autor:in) / Ramachandran, V. (Autor:in) / Feenstra, R. M. (Autor:in) / Nemanich, R. J. (Autor:in) / Davis, R. F. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 338/342 ; 353-356

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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