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Investigation of the Origin of Micropipe Defect

Okamoto, A. / Sugiyama, N. / Tani, T. / Kamiya, N.

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Titel:

Investigation of the Origin of Micropipe Defect

Beteiligte:

Okamoto, A. (Autor:in) / Sugiyama, N. (Autor:in) / Tani, T. (Autor:in) / Kamiya, N. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 338/342 ; 441-444

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

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