Short communication Investigation of micropipe defect terminating during SiC crystal growth: Fid-Bau Portal

Short communication Investigation of micropipe defect terminating during SiC crystal growth

Lin, S.H. / Chen, Z.M. / Liang, P. / Jiang, D. / Xie, H.J. / Yang, Y. / Pan, P.

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Titel:

Short communication Investigation of micropipe defect terminating during SiC crystal growth

Beteiligte:

Lin, S.H. (Autor:in) / Chen, Z.M. (Autor:in) / Liang, P. (Autor:in) / Jiang, D. (Autor:in) / Xie, H.J. (Autor:in) / Yang, Y. (Autor:in) / Pan, P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY -LONDON- ; 27 ; 586-588

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0267-0836

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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