MicroRaman and Hall Effect Study of n-Type Bulk 4H-SiC: Fid-Bau Portal

MicroRaman and Hall Effect Study of n-Type Bulk 4H-SiC

Chafai, M. / Jimenez, J. / Martin, E. / Mitchel, W. C. / Saxler, A. / Perrin, R.

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Titel:

MicroRaman and Hall Effect Study of n-Type Bulk 4H-SiC

Beteiligte:

Chafai, M. (Autor:in) / Jimenez, J. (Autor:in) / Martin, E. (Autor:in) / Mitchel, W. C. (Autor:in) / Saxler, A. (Autor:in) / Perrin, R. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 338/342 ; 707-710

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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