Interface characterization of high-quality SrTiO3 thin films on Si(100) substrates grown by molecular beam epitaxy: Fid-Bau Portal

Interface characterization of high-quality SrTiO3 thin films on Si(100) substrates grown by molecular beam epitaxy

Ramdani, J. / Droopad, R. / Yu, Z. / Curless, J. A. / Overgaard, C. D. / Finder, J. / Eisenbeiser, K. / Hallmark, J. A. / Ooms, W. J. / Kaushik, V.

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Ramdani, J. / Droopad, R. / Yu, Z. / Curless, J. A. / Overgaard, C. D. / Finder, J. / Eisenbeiser, K. / Hallmark, J. A. / Ooms, W. J. / Kaushik, V.

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Ramdani, J. / Droopad, R. / Yu, Z. / Curless, J. A. / Overgaard, C. D. / Finder, J. / Eisenbeiser, K. / Hallmark, J. A. / Ooms, W. J. / Kaushik, V.

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Titel:

Interface characterization of high-quality SrTiO3 thin films on Si(100) substrates grown by molecular beam epitaxy

Beteiligte:

Ramdani, J. (Autor:in) / Droopad, R. (Autor:in) / Yu, Z. (Autor:in) / Curless, J. A. (Autor:in) / Overgaard, C. D. (Autor:in) / Finder, J. (Autor:in) / Eisenbeiser, K. (Autor:in) / Hallmark, J. A. (Autor:in) / Ooms, W. J. (Autor:in) / Kaushik, V. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 159-160 ; 127-133

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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