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    Titel:

    XPS and HRTEM characterization of cobalt-nickel silicide thin films

    Beteiligte:

    Garcendez, M. (Autor:in) / Castillon, F. F. (Autor:in) / Hirata, G. A. (Autor:in) / Farias, M. H. (Autor:in) / Beamson, G. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 161 ; 61-73

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    13 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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