Imaging of the structure of ultra-thin cobalt silicide films by inelastically backscattered electrons: Fid-Bau Portal

Imaging of the structure of ultra-thin cobalt silicide films by inelastically backscattered electrons

Pronin, I. I. / Valdaitsev, D. A. / Faradzhev, N. S. / Gomoyunova, M. V. / Luches, P. / Valeri, S.

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Titel:

Imaging of the structure of ultra-thin cobalt silicide films by inelastically backscattered electrons

Beteiligte:

Pronin, I. I. (Autor:in) / Valdaitsev, D. A. (Autor:in) / Faradzhev, N. S. (Autor:in) / Gomoyunova, M. V. (Autor:in) / Luches, P. (Autor:in) / Valeri, S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 175-176 ; 83-89

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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