Nanometer scale apertureless near field microscopy: Fid-Bau Portal

Nanometer scale apertureless near field microscopy

Gresillon, S. / Ducourtieux, S. / Lahrech, A. / Aigouy, L. / Rivoal, J. C. / Boccara, A. C.

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Titel:

Nanometer scale apertureless near field microscopy

Beteiligte:

Gresillon, S. (Autor:in) / Ducourtieux, S. (Autor:in) / Lahrech, A. (Autor:in) / Aigouy, L. (Autor:in) / Rivoal, J. C. (Autor:in) / Boccara, A. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 164 ; 118-123

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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